La Unidad AFM-MicroRaman combina dos técnicas diferentes. Por un lado, la Espectroscopía Raman que proporciona identificación química, y por otro la Microscopía de Fuerzas Atómicas que permite el registro de la topografía superficial de una muestra a escala nanométrica.

Servicio de Microscopía Raman Confocal

Combina un espectrómetro Raman (espectroscopía Raman) y un Microscopio Confocal.
Este microscopio permite mediante el efecto Raman, identificar y caracterizar de manera no destructiva y sin contacto la estructura química de casi cualquier compuesto, de manera que es posible identificar aisladamente partículas del orden de la micra.
El efecto Raman se produce cuando una radiación monocromática interacciona con el material generando una dispersión inelástica de la luz obteniendo, en general, una señal muy débil puesto que sólo 1 de aproximadamente 106 - 108 fotones incidentes contribuyen a la señal Raman resultante. La interacción de la radiación incidente con la materia produce cambios a nivel atómico que son detectados por el microscopio Raman y, por tanto, la señal Raman constituye una huella dactilar de cada muestra dando información inequívoca de su composición química y la estructura del material.

Servicio de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)

Es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas atómicas o moleculares del orden de los nanonewton entre una punta de diámetro nanométrico y una muestra. De esta manera al ir rastreando la muestra con una punta muy afilada podemos registrar continuamente la topografía de su superficie, obteniendo así una imagen 2D y 3D de la superficie con una resolución de nanómetros (10-9 m), así como datos de rugosidad de manera simultánea.

Servicio de Microscopía de Fuerza Atómica + Raman-NTEGRA

Este servicio integra dos técnicas combinadas en un único sistema, microscopía de fuerzas atómicas (AFM) con espectroscopía Raman y microscopía confocal.
El registro simultáneo con precisión nanométrica de medidas AFM y mapping Raman de la misma área de la muestra proporcionan información complementaria esencial sobre las propiedades físicas, topografía, análisis de rugosidad (AFM) y composición química (Raman), con el objetivo de poder estudiar la distribución de las propiedades químicas con resolución molecular.

Microscopio inVia Reflex Raman

Tiene aplicaciones en una amplia gama de campos:
Ciencias de la Tierra (Geoquímica) (identificación de gemas, piedras preciosas, inclusiones en minerales etc.), biología y ciencias de la vida (identificación de orgánulos y biomoléculas), medioambiente (determinación de contaminación por complejos metálicos en suelos, etc.), empresas de electrónica, semiconductores, farmacéuticas, ciencias de los materiales (estudio de polímeros, nanopartículas, thin films, compuestos inorgánicos, análisis de compuestos de carbono, nanotubos de carbono, grafeno, grafito, etc.), en bellas artes y humanidades (análisis de pinturas y pigmentos de obras de arte históricas como ayuda para una restauración precisa o una autenticación), en ciencias forenses o policía científica (identificación de drogas y explosivos), ciencias químicas y físicas.

Microscopio de Fuerzas Atómica (AFM)

Esta técnica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología para la caracterización y visualización de materiales a dimensiones nanométricas, con lo que tiene aplicaciones en multitud de ámbitos científicos:
Física, ciencia de los materiales (empresas de pinturas, industria automovilística, etc.), microelectrónica, ingenierías, química, capas finas (análisis de rugosidad superficial), biología y medicina (obtención de imágenes tridimensionales de proteínas, ADN etc.).

Microscopio AFM+Raman Ntegra Spectra

Debido a la combinación de dos técnicas complementarias tiene aplicaciones de gran interés:
Biología y medicina (análisis de estructuras biológicas), ciencias de los materiales (estudio de materiales de carbono, grafeno, nanotubos de carbono, nanoestructuras), polímeros, semiconductores, geoquímica (caracterización e identificación de inclusiones en minerales).