Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X
Técnicas
Las imágenes de de transmisión convencional (CTEM) permiten descubrir la estructura interna de las muestras con una resolución de hasta 0.1nm, y mediante la difracción de electrones (SAED) se puede obtener valiosa información sobre su estructura cristalina.
En las imágenes obtenidas en modo STEM el contraste es proporcional al peso atómico de los elementos de la muestra, lo que nos permite comprobar de un vistazo como están estos distribuidos en la estructura. La disponibilidad de cuatro detectores (HAADF, ADF, DF y BF) independientes y utilizables simultáneamente permiten observar en tiempo real cual se adapta mejor a las características y composición de la muestra observada. El modo HAADF permite localizar con facilidad nanopartículas pesadas en matrices orgánicas o de elementos más ligeros.
Las técnicas de dispersión de energías de rayos-X (EDX) y de pérdida de energía de electrones (EELS) permiten hacer análisis composicionales localizados sobre la imagen de la muestra, bien en un solo punto nanométrico o un mapa completo. La alta energía del cañón FEG unido a la disponibilidad de cuatro detectores simultáneos de EDX permiten obtener mapas de composición en segundos. Mediante el sistema EELS se puede extraer información adicional como espesor de la muestra, fases, enegías de enlace, propiedades ópticas, etc.
Mediante la técnica de tomografía electrónica se pueden obtener reconstrucciones tridimensionales del volumen de la muestra y generar imágenes y videos de gran impacto visual.
Aplicaciones
- Ultraestructura de muestras biológicas.
- Análisis de materiales nanoestructurados (swnt, mwnt, partículas core-shell, láminas delgadas, nanorods, grafenos, materiales mesoporosos, catalizadores...).
- Detección y cuantificación de impurezas o elementos minoritarios presentes en materiales puros.
- Identificación de fases cristalinas.
- Estudio de defectos micro-estructurales en materiales cristalinos.
- Determinación de la celda unitaria.
- Reconstrucción tridimensional de volúmenes nanométricos.
- En resumen, todo esto nos permite caracterizar todo tipo de sólidos (cerámicas, aleaciones metálicas, cementos, minerales, etc.) y muestras biológicas tomando una mínima porción de los mismos, obteniendo una valiosa información física, química y estructural.
Equipamiento
El equipamiento disponible:
-
Personal
¡Bienvenido!Adolfo Martínez Orellana
Técnico ResponsableTrabajo desde 2001 en la Unidad de Microscopía Electrónica de Transmisión. Soy Ingeniero Técnico en electricidad/electrónica. Aficionado a la programación de aplicaciones en la web y gestión de RRSS. Maestro de nada, aprendiz de todo. Carpe díem.TELÉFONO+34 952132371CORREOamartinezo@uma.esDIRECCIÓNBulevar Louis Pasteur 33
Edificio SCAI
Planta Sótano AS-09
29010 Málaga -
Información adicional
-
Portafolio de servicios
- SEM001 JEOL 6490 LW + EDX / h.
- SEM002 JEOLJSM 840 / h.
- SEM003 JEOL 6490 LW + EDX / h.
- SEM004 JEOLJSM 840 / h.
- SEM005 Captación de imágene.
- SEM006 Metalización muestras para SEM (> 8 muestras).
- SEM007 Desecación por punto crítico.
- SEM008 Embutido en resina de muestra para SEM.
-
Documentos de interés